此研討會我們將討論 6G 通訊技術的挑戰和解決方案。在 5G/6G 毫米波（mmWave）頻段下，面臨高傳播損耗和精密超材料操控等重大挑戰。如何延伸現有 Sub-6 GHz 儀器，除了有效達到毫米波頻段的測試需求，並滿足 5G/6G 通訊系統所需要的寬頻帶、高吞吐量以及高連結性等測試，仰賴訊號源與分析儀的品質與整合度。

在多設備的環境中，高連接性也存在穩定性和效率的議題。為滿足 6G 應用中多樣的測試需求，我們提出創新的測試與量測方案，以提供高頻段、高連接性、寬頻等測試能力，並能在複雜的測試情境中，動態地適應不同場景和變化。Anritsu 與 TMYTEK 的先進 5G NR 訊號生成與分析解決方案，致力於解決這些關鍵挑戰，為 6G 技術的發展提供了重要支持。

研討會中將探討 6G 測試與量測解決方案在可重構智能表面（RIS）前沿研究中的關鍵角色。在 6G 網路中，RIS 測試是提升訊號覆蓋和網路性能的關鍵技術。為了充分發揮 RIS 的潛力，必須進行全面的測試與量測。在本次研討會中，我們將深入探討如何利用 Anritsu 的向量訊號產生器 MG3710E、訊號分析儀MS2850A、TMYTEK 升/降頻器 UD Box/UD Module 0620、波束成形器 BBox One 等工具進行 RIS 測試與量測：
 

RIS 的測試可以通過空中測試（OTA），在暗室中對反射訊號進行 3D 掃描，以評估其各種性能指標，如誤差向量幅度（EVM）和指向性精度。當 RIS 部署於蜂窩網路時，其對多路徑環境的影響亦須透過覆蓋量測和信道探測進行詳細評估。除了頻譜量測，還需分析星座圖和 EVM 性能，以獲得關鍵的 RIS 性能數據。針對高頻量測挑戰的解決方案，可經濟有效地量測指向性、增益、旁瓣和偏轉角等參數，為 RIS 開發提供全面支持。
立即註冊，深入了解 Anritsu 與 TMYTEK 的前沿 RIS 測試解決方案，並探索 6G 技術的未來潛力！

注意： 本次研討會將通過 WebinarGeek 平台進行。註冊成功的參與者將在活動前 24 小時內收到加入連結。